1. 国内首次从微电子系统角度总结了国内外辐射环境和辐射效应等方面的知识和技术。
2. 国内首次披露辐射环境模拟和结合集成电路仿真的多层次辐射效应数值仿真技术。
3. 国内首次介绍基于商用CMOS集成电路工艺的集成电路的抗辐射加固设计方法学。
4. 理论和实际相结合，系统总结了经典CMOS集成电路的抗辐射加固设计策略和电路。