本书从NC-AFM/KPFM基本原理、仪器构成以及在典型材料表面的超高分辨率测量等方面对相关内容进行了深度分析，有望对扫描探针技术在精密测量物理领域的基本常数高精度测量提供更为精准的工具和方法。