作者简介

刘汉诚(John H. Lau),伊利诺伊大学香槟分校理论与应用力学博士,不列颠哥伦比亚大学结构工程硕士,威斯康星大学麦迪逊分校工程力学硕士,菲尔莱狄更斯大学管理科学硕士,台湾大学土木工程学士。
历任台湾欣兴电子股份有限公司CTO、香港ASM太平洋科技有限公司高级技术顾问、台湾工业技术研究院研究员、香港科技大学客座教授、新加坡微电子研究院MMC实验室主任、惠普实验室/安捷伦公司资深科学家(超过25年)。
拥有40多年的集成电路研发和制造经验,专业领域包括集成电路的设计、分析、材料、工艺、制造、认证、可靠性、测试和热管理等,目前研究领域为芯片异构集成、SiP、TSV、扇出/扇入晶圆/面板级封装、MEMS、mini/ micro LED、3D IC集成、SMT和焊接力学等。
发表480多篇论文,发明30多项专利,举办 300多场讲座,撰写20多部教科书(涉及3D IC 集成、TSV、先进 MEMS 封装、倒装芯片 WLP、面积阵列封装、高密度 PCB、SMT、DCA、无铅材料、焊接、制造和可靠性等领域)。
ASME Fellow、IEEE life Fellow、IMAPS Fellow,积极参与ASME、IEEE和IMAPS的多项技术活动。获得ASME、IEEE、SME等协会颁发的多项荣誉,包括IEEE/ECTC**会议论文(1989)、IEEE/EPTC**论文奖(2009)、ASME Transactions**论文奖(电子封装杂志,2000)、IEEE Transactions**论文奖(CPMT,2010)、ASME/EEP杰出技术成就奖(1998)、IEEE/CPMT电子制造技术奖(1994)、IEEE/CPMT杰出技术成就奖(2000)、IEEE/CPMT杰出持续技术贡献奖(2010)、SME电子制造全面卓越奖(2001)、潘文渊杰出研究奖(2011)、IEEE 继续教育杰出成就奖(2000)、IEEE CPMT技术领域奖(2013)和 ASME 伍斯特·里德·华纳奖章(2015)等。