本书论述抗辐射集成电路方面的知识。全书共分10章，主要内容包括辐射环境、辐射效应、抗辐射双极集成电路设计、抗辐射MOS集成电路设计、微处理器加固技术、存储器加固技术、FPGA加固技术、模型参数、集成电路抗辐射性能评估。

本书可作为高等学校电子科学与技术类专业选修教材，

或从事相关研究的科技人员的参考书。