"本书从数字集成电路测试在数字芯片设计阶段发挥的重要作用出发，系统地介绍了数字电路测试的完整技术体系，内容突出基础理论和关键技术，并以西门子EDA工具Tessent的设计脚本为例，介绍了这些技术在测试综合EDA工具中的使用流程。
 系统性  内容涵盖数字集成电路测试的基本原理和体系架构。
 全面性  全面介绍可测试性设计、测试生成、SoC测试等技术。
 先进性  结合半导体行业发展的趋势，介绍测试技术和测试标准的近期发展。
 实践性  以业界常用的Tessent为例，介绍典型的测试综合流程，同时提供设计案例、EDA脚本、习题解答等配套教学资源。
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