《光电检测技术》（第3版）自2014年出版以来，收到一些好的修改建议。同时，我们开展了“光电检测技术”课程内容及教学方法的优化与实践以及“光电检测技术”精品资源共享课程建设工作。为使其在高等教育的相关专业教学中发挥更好的作用，再次进行了修订。

本书和第3版相比,除了修改了某些错误之外,主要做了如下工作：

1.修订原书中的其他基本概念为光度学的基本定律，保留了点源和扩展源的基本概，明晰了照度与距离平方反比定律、朗伯余弦定律和亮度守恒定律，增加了噪声的等效处理等内容；

2.丰富了光电器件与集成运算放大器的连接的内容，增加了电流放大型、电压放大型和阻抗变换型变换电路的工作原理及优缺点等内容；

3.丰富了光敏电阻应用电路的内容，增加了对恒流偏置、恒压偏置和恒功率偏置工作原理等内容；

4. 微通道板在提升光电倍增管和像增强器性能方面具有重要的作用，本次修订增加了使用MCP时应注意的事项，如输出电流密度的饱和效应和离子反馈等内容；

5.丰富了自扫描光电二极管阵列的内容，增加了CMOS图像传感器的内容，如CMOS图像传感器的结构与工作原理、CMOS图像传感器阵列、CMOS光敏元的单元电路、固定图像噪声(FPN)消除电路以及CMOS与CCD图像传感器比较和CMOS摄像器件的发展现状和应用；

6.光纤面板在提升像增强器性能和改善像质等方面具有重要的作用，本次修订丰富了光纤面板的内容，如锥形光纤的工作原理和光纤面板的三环效应等内容；

7.鉴于共线光外差干涉系统在纳米光学测量中的重要性，根据自己的科研成果增加了共线光外差干涉系统相位调制的内容。

8.删除了第10章“太赫兹波的产生与检测”一章，同时对第1、4、5和7章的作业也进行了补充。

本版修订中第1和4章由张志伟完成，第2章由曾光宇完成，第3和7章由山西大学许富景完成，第5章由李仰军完成，第6章由赵冬娥完成，第8章由王高完成，第9和10章由太原理工大学张文静完成，第11章由赵辉完成。

本版修订参阅了大量的参考资料,编者再次向相关作者表示衷心感谢。由于我们的学识有限，书中难免存在错误和不当之处，恳请广大读者指正，以便进一步修订和完善。

编者

2018年7月