


定价:118元
印次:1-6
ISBN:9787302531340
出版日期:2020.01.01
印刷日期:2024.10.31
图书责编:王芳
图书分类:教材
3D是一种全新的技术,不仅是因为它的多层结构,还因为它是一种基于新型NAND的存储单元。在第1章介绍3D FLASH的市场趋势后,本书的2~8章介绍3D FlASH的工作原理、新技术以及应用架构,包括电荷俘获和浮栅技术(包括可靠性和可缩小性这两种性质在两种技术之间的对比,以及大量不同的材料和垂直架构)、3D堆叠NAND、BiCS和P-BICS、3D浮栅技术、3D VG NAND3D先进架构和RRAM交叉点阵列等。第9~12章探讨了3D FLASH的系统级先进技术,包括多级存储和芯片堆叠等封装技术创新;基于低密度奇偶校验码的最新商业解决方案的演化进程;TLC/QLC与若干3D层的组合需要的非对称代数码和非二进制LDPC码等校正技术;以及从系统的角度看3D Flash的含义。
本书是关于三维存储器的专业书籍,着眼于3D NAND闪存技术发展的未来,结合3D NAND闪存技术和固态硬盘的市场趋势,全面介绍了3D NAND闪存技术的工作原理、器件架构、工艺与应用等,同时也覆盖三维阻变存储器等前沿内容
前言 1903年,莱特兄弟第一次使动力飞机进入第三维度。在实现这远古的梦想之后,飞行更快、更安全、更持久的预测更加迫切。实际上,实现类似这种第一次动力飞行的突破是非常重要的。但是更重要的是,实现这种不可预见的成果对于我们来说是让人振奋的。很少有人能预测到在莱特兄弟第一次飞行之后,仅66年后人类便在月球表面留下脚印。 半导体产业几乎占据我们生活的所有部分,并且悄悄地用其他方法将精确制造的规模缩小到难以想象的程度。非易失性存储器(NVM)的晶圆通常包含数万亿的单元。虽然具有挑战性,但根据摩尔定律(Moores Law),2D集成电路上的元件密度将每年翻一番,并且两年会发生一次。在1965年时,很难预测到互联网、智能手机、自动驾驶的发明,这些可能很大程度基于摩尔定律。 元件数量加倍的速度减缓到了2.5年。但是仍然达到摩尔定律的无法预测的转折点。元件密度在3D空间可以继续增长。其他技术也在不断增加“额外”的维度,包括压敏触摸屏、视频动作捕捉、自动导航、3D打印和无人机。 传统的2D半导体工艺显然包括第三维度。材料的厚度多种多样。器件由多层材料和形状组成,夹层互连使其很复杂。此外,FinFET 3D晶体管已经在微处理机应用几年。然而,3D NAND闪存目前所用的工艺完全不同。2D工艺制造的器件可在晶圆的X-Y平面完全枚举,但是3D闪存也在Z方向即垂直于晶圆的平面制造器件。正如戈登摩尔(Gordon Moore)在1965发表的对半导体制造的未来预测,我们无法预测额外的维度在尺寸缩小中带来的益处。 将3D半导体处理仅仅作为一个渐进的步骤是目光短浅的。新增加的Z向维度使同...
目录
第1章NAND存储器的生态
1.1存储器行业变迁
1.1.1NAND及存储器供应商的整合
1.1.2NAND技术发展
1.1.3NAND应用模式的变化
1.2固体硬盘
1.2.1企业级SSD
1.2.2BuildYourOwn和客制化SSD
1.2.3SSD控制器的经济效应
1.2.4消费级SSD
1.3NAND技术演进: 3D NAND
1.3.13D NAND技术
1.3.23D NAND产品以TLC为主导
1.3.3浮栅技术VS电荷俘获技术
1.3.4封装创新: TSV NAND
1.4新存储器技术
1.5未来5年我们期待什么
第2章3D NAND Flash的可靠性
2.1引言
2.2NAND Flash可靠性
2.2.1耐擦写特性
2.2.2数据保持特性
2.2.3不稳定的存储位和过度写入
2.3与架构相关的可靠性问题
2.42D电荷俘获器件:基础知识
2.52D电荷俘获器件:可靠性问题
2.5.1耐擦写特性退化
2.5.2数据保持特性
2.5.3检测时的阈值电压变化
2.6从2D到3D的电荷俘获NAND
2.73D电荷俘获器件:可靠性问题
2.7.1顶部和底部氧化层的垂直电荷损失
2.7.2间隔处的横向迁移
2.7.3阈值电压瞬态偏移
2.7.4写入和通道串扰
2.7.5垂直通道设计的局限性
2.83D电荷俘获器件与最先进的2D浮栅... 查看详情





