《数字集成电路测试——理论、方法与实践》全面介绍数字集成电路测试的基础理论、方法与EDA实践。第1章为数字集成电路测试技术导论，第2～9章依次介绍故障模拟、测试生成、可测试性设计、逻辑内建自测试、测试压缩、存储器自测试与自修复、系统测试和SoC测试、逻辑诊断与良率分析等基础测试技术，第10章扩展介绍在汽车电子领域发展的测试技术，第11章对数字电路测试的技术趋势进行展望。 针对每一种数字集成电路测试技术，本书一方面用示例讲述其技术原理，另一方面用电子设计自动化(EDA)的商业工具对具体实例演示技术应用过程（EDA工具应用脚本及其说明可在配套资源中下载），并在每章后附有习题。通过本书，读者一方面可以学习到基本的测试理论和相关技术；另一方面，还可以对当今芯片设计流程和EDA工具链中测试技术的运用和实践有所了解。 《数字集成电路测试——理论、方法与实践》适合作为高等院校集成电路、计算机科学与技术、电子科学与技术等相关专业高年级本科生、研究生教材，也可供集成电路设计与测试行业的开发人员、广大科技工作者和研究人员参考。

李华伟，女，1974-，博士，研究员。研究方向为集成电路设计自动化、数字电路测试、智能计算芯片架构，主讲《VLSI测试与可测试性设计》等课程。从教以来，获中国科学院教育教学成果二等奖；发表论文200余篇，出版《数字集成电路设计验证》、《数字系统测试与可测试设计》、《安腾体系结构》等3部著作；主持国家级科研项目8项；获国家技术发明二等奖1项，省部级以上奖励10项；已获授权国家发明专利32项。

前言 质量管理之父W. Edwards Deming博士说：产品质量是生产出来的，不是检验出来的。集成电路芯片产品的质量是如何生产出来的？答案是电子设计自动化（Electronic Design Automation，EDA）过程中的计算机辅助测试（ComputerAided Test，CAT）技术。 随着20世纪70年代后期门电路数超过万门的超大规模集成电路的研制成功，EDA工业软件在辅助电路的自动设计、提升芯片开发效率上发挥着越来越重要的作用，并已逐渐覆盖芯片设计的每个环节，形成EDA工具链。如今，EDA已被誉为整个半导体行业的支点。 在数字集成电路芯片设计环节中，与集成电路工艺线制造出来的芯片质量息息相关的环节是衔接前端结构设计和后端物理设计的可测试性设计，它将测试电路添加到芯片中，帮助生成有效的测试数据，经济地实现对芯片产品中故障的全面检测。测试综合EDA工具是CAT技术的载体，可自动完成数字芯片的可测试性设计和测试生成，已成为数字芯片EDA工具链上不可缺少的组成部分，是数字芯片产品质量保障的必备工业软件。测试综合EDA商业工具的典型代表是西门子EDA（原Mentor Graphics）的Tessent工具。 早在25年前，我在中国科学院计算技术研究所读研究生时就与数字电路测试领域结缘，彼时在闵应骅老师和李忠诚老师的指导下开始研究时延测试生成技术。在计算技术研究所研发龙芯1号处理器时，李晓维老师带着我和当时的学生们在最早的龙芯1号处理器中完成可测试性设计，这是我首次接触和使用EDA工具。在测试领域的国际会议上，我们结识了不少Me...